塞贝克系数/电阻测量系统-ZEM

塞贝克系数/电阻测量系统-ZEM

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。该系统可用于对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析



产品特点

+  拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;

+  测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;

+  欧姆接触自动检测功能(V-I图);

+  可以用独创的适配器来测量薄膜;

+  可定制高阻型。

工作原理


基本参数

型号

ZEM-3M8

ZEM-3M10

温度范围

50-800℃

50-1000℃

样品大小

方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL

加热方式

红外加热

气氛

高纯氦气(99.999%) 

样品温差 

MAX.50℃ 

测量方式

电脑全自动测量


设备结构




样品腔结构


可选功能


1. 薄膜测量选件


2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)

 

3.高阻选件(最高到10MΩ)

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