台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES
台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES

台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES



美国easyXAFS公司最新推出台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES),采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量,广泛应用在催化、电池等研究领域,实现对元素的测定、定量和价态分析等


研究金属材料的晶体结构和物相组成,给出大无序体系的结构参数,解决重大科学问题。

XAFS/XES 设备特点 


-  无需同步辐射光源

-  科研级别谱图效果

-  台式设计,实验室内使用

-  可外接仪器设备,控制样品条件

-  可实现多个样品或多种条件测试

-  操作便捷、维护成本低

XAFS/XES 设备参数


X射线源:

          XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/W)

          XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)
能量范围: 5-12keV; 可达19keV
分辨率: 0.5-1.5eV
样品塔: 7位自动样品轮
布拉格角: 55-85 deg


检测器: SDD

单晶尺寸:

          球面单晶(Si/Ge)

          直径10cm,曲率半径100cm
软件: LabVIEW, 脚本扫描
扩展: 仪器可外接设备,控制样品条件
分析仪校准: 预先校准,快速插拔更换


 

XAFS300 


XES100


1、XAFS300




2、XES100


■   XES Mode 


■   XAFS Mode

 

 



1. Jahrman, Seidler, et al., J. Electrochem. Soc. 2019.

2. Jahrman, Holden, et al., Rev. Sci. Instrum. 2019.

3. Bès, Ahopelto, et al., J. Nucl. Mater. 2018.

4. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 2018

5. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal. Chem., 2018

6. Holden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018.

7. Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018.

8. Padamati, Angelone, et al., JACS, 2017

9. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.

10. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 2017

11. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.

12. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.

13. Seidler, Mortensen, et al., Rev. Sci. Instrum. 2014.

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