聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d

聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d

日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台,广获全球科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。

与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

ZEM-d测量原理


现存测试方法


ZEM-d(厚度方向测量)



电阻率测量原理


塞贝克系数测量原理


ZEM-d技术参数


测量参数        塞贝克系数,电阻率

温度范围        最高200℃(样品表面)

样品尺寸        截面:Φ20mm(Max),长度:0.01-20mm

测量氛围        空气或惰性气体



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