台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES
美国easyXAFS公司最新推出台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES），采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究领域，实现对元素的测定、定量和价态分析等。
明确能源材料结构和性能之间的关系，为优化设计新能源材料提供新的认识和思路。
美国easyXAFS公司最新推出台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES），采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究领域，实现对元素的测定、定量和价态分析等。
明确能源材料结构和性能之间的关系，为优化设计新能源材料提供新的认识和思路。
XAFS/XES 设备特点
- 无需同步辐射光源
- 科研级别谱图效果
- 台式设计，实验室内使用
- 可外接仪器设备，控制样品条件
- 可实现多个样品或多种条件测试
- 操作便捷、维护成本低
XAFS/XES 设备参数
X射线源: XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/W) XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W) | 检测器: SDD 单晶尺寸: 球面单晶(Si/Ge) 直径10cm，曲率半径100cm |
