超高真空变温扫描探针显微镜

超高真空变温扫描探针显微镜


美国 RHK Technology 成立于 1981 年。作为 SPM 工业中的领军仪器制造商,RHK Technology 始终保持着鲜明的特色:创新性、可靠性、产品设计的开放性与优秀的客户支持。

凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与世界著名科学家的紧密合作,二十多年来 RHK Technology 源源不断地向全世界科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。


美国 RHK Technology公司 超高真空变温扫描探针显微镜 系列产品包括:

●   UHV STM/AFM系统

●   UHV STM/AFM子系统

●   扫描探针显微镜表面分析系统

●   超高真空低温四探针表面分析系统 - UHV LT QuadraProbe

●   超高真空Beetle式变温变磁场系统 - UHV VT VMF STM/AFM



UHV STM/AFM系


完整的超高真空 STM/AFM 系统,具有扫描速度快,震动隔离采用气柱或者弹簧方式,自动化程度高的特点。


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UHV STM/AFM子系统

超高真空 STM/AFM 首选子系统;样品变温范围从小于 25 K 到大于 1500 K;配有震动隔离系统;原位针尖替换与转移;易于与其他设备连接,从而构建多腔体 SPM 系统。


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扫描探针显微镜表面分析系统


此系列的产品完美结合了 RHK SPM 与 Specs 生产的表面分析设备,可以进行多种表面分析操作;操作简单、实验结果精确。

RHK Tech.公司已经和Specs公司联合起来,为全世界的科学家们提供性能最优异的SPM/表面分析联合系统。客户通过从RHK选择SPM,从Specs选择各种表面分析设备,自行设计一套表面分析系统。RHK和Specs的工程师们会对该设备进行优化、融合,以达到操作简便的目的。

RHK公司提供给渥太华大学的系统包括了:RHK AFM、LEED/Auger、质谱仪以及Specs公司的XPS设备。



超高真空Beetle式变温变磁场系统

 - UHV VT VMF STM/AFM


VMF系列扫描探针显微镜系统将变磁场环境引入到表面科学研究与实验中,无需制冷装置,即可实现0~10000Gauss面内连续可变磁场环境,在变磁场环境中,AFM/STM的功能和性能不受任何影响;样品的变温范围从25K~1500K。


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超高真空低温四探针表面分析系统

 - UHV LT QuadraProbe


QuadraProbe四探针表面分析系统保证了样品和四个STM探针都10K下长时间稳定工作,每个探针的分辨率都达到了原子级分辨。在四个探针上方配有高分辨的SEM,用于对探针的粗定位与导航。样品分析室中还选配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司将最先进的R9控制器配置到四探针系统中,用户可以非常方面的实现对四个探针的独立控制。


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