RHK变温-变磁场扫描探针显微镜系统(STM/AFM)具有以下五个特点:


1)SPM扫描过程中连续变化磁场,且无需将SPM探针退回;

2)所施加的磁场为面内的,高达10,000Gauss;样品尺寸约1cm;

3)利用电磁铁提供可逆、连续变化的磁场;

4)磁场强度精确可控,重复性极好;

5)磁场的施加对SPM扫描精度、分辨率、稳定性和振动隔离没有任何影响。

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