nGauge便携式芯片原子力显微镜
nGauge便携式芯片原子力显微镜

nGauge便携式芯片原子力显微镜

——AFM纳米形貌表征从未如此简单!


加拿大ICSPI公司设计和生产的便携式nGauge原子力显微镜(AFM),基于其独有的芯片式自感应探针技术,摆脱了传统AFM对激光的依赖,带给了传统AFM革命性的变化! nGauge便携式芯片原子力显微镜(AFM)具有小巧灵活、方便携带,操作简单,扫描速度快,可扫描大尺寸样品,无需维护、无需减震、超级稳定等优点,适合各类纳米表征应用场景,从科学研究、高等教育到工业用户的样品3D表面形貌快速成像分析等,革命性的创新技术的降低了传统AFM的复杂操作,也的拓宽了传统AFM的应用范围! 


适合各类纳米表征应用场景

半导体工业

材料工业

纳米技术

生命科技

涂料,聚合物和复合材料等

高等教育

......


便携式纳米级精度原子力显微镜(AFM),扫描速度快,无需维护,可用于大尺寸样品。

产品特点

更小巧,更便携

的AFM微纳机电芯片,使得nGauge原子力显微镜(AFM)系统仅有公文包大小,可随身携带。

更简单,更易用

只需点击鼠标三次即可获得样品表面纳米级形貌信息,无需配置减震平台。 

更高性价比

扫描速度快,可扫描大尺寸样品。一个针尖可以进行上千次扫描,无需繁琐的更换针尖操作和其他后期维护工作。


基本参数   

成像类型:形貌图,相位图

XY扫描大区域:100 µm × 100 µm

XY 扫描分辨率:<0.5 nm

Z向扫描范围:10 µm

快速扫描成像时间:16 秒   

可表征样品大尺寸:100 mm x 50 mm x 20 mm

可表征样品大重量:1 kg


各表征手段对比



nGauge AFM

传统 AFM

SEM

大气环境下运行

✔️

✔️

自动寻找样品表面

✔️

N/A

设备安装时间

5 分钟

1-2 周

1-2 周

扫描样品时间

2 分钟

1 小时

30 分钟 – 1 小时

随测随走

✔️

培训时间

1 小时

12+ 小时

12+ 小时

无需激光对准

✔️

普通市电/USB供电

✔️

更换探针难度

✔️

N/A

3D表面形貌成像

✔️

✔️

成像分辨率

✔️

✔️

不导电样品表征

✔️

✔️


■  便携式AFM 用于研究腐蚀样品中组织与性能的关系


近期,江苏科技大学乔岩欣教授课题组使用便携式nGauge原子力显微镜研究了在不同腐蚀温度下NaCl(3.5wt.%)溶液对E690钢的腐蚀结果。相关结果已发表在国际学术期刊《Materials Research Express》 

乔教授课题组使用便携式nGauge原子力显微镜对样品的表面粗糙度进行了表征。该表征结果弥补了扫描电子显微镜(SEM)和能量散射X射线谱(EDS)对样品表面三维形貌信息的缺失。 

在便携式nGauge原子力显微镜的帮助下,并综合SEM和EDS的表征结果,研究结果表明腐蚀速率与腐蚀温度呈现正相关关系。这一关系的主要原因是腐蚀速率与氧在表面扩散直接相关,而氧在电解质中的溶解又与温度有关。

 原子力显微镜所获得的数据,可以让研究人员对样品表面的腐蚀进行定量分析。数据表明,当样品暴露在高温的腐蚀液中,表面的粗糙度会因为形成较厚的腐蚀层而有所降低。综合各项表征结果来看,在20 °C条件下样品表面粗糙度为276.5nm,而在60 °C条件下粗糙度降为145.2 nm。


参考文献:

[1] Yan Q ,  Yin Q ,  Cui J , et al. Effect of temperature on corrosion behavior of E690 steel in 3.5 wt.% NaCl solution[J]. Materials Research Express, 2021, 8(1):016528 (12pp).

   


丹麦Akasel公司检测钢铁抛光样品表面

                                               

美国Biotech公司表征皮肤样本


美国Applied Nanotool公司微纳光学器件品控

 

光电子领域器件检测



1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.

2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.

3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.

4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.

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nGauge便携式芯片原子力显微镜

——操作简单、扫描速度快、大尺寸样品、无需减震、无需维护、3D形貌成像,AFM纳米形貌表征从未如此简单!