——TEM、STEM、SEM、EDS和ED五种模式
LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低电压透射电子显微镜，配备了五种成像和分析模式，把实验室材料表征研究推向一个新高度。超快的样品切换和增强的自动化功能使LVEM 25E成为常规成像应用中十分实用且易用的工具。LVEM 25E能从标准制备的样品中获得对比度好、细节丰富的图像，并能在减少染色的情况下获得同等细节水平的图像。
LVEM 25E不仅可以测量内部和外部结构，还可以分析样品的化学成分，所有这些功能均在一台设备上完成。先进的软件设计，可通过自动设置镜筒对中和光阑位置来协助用户分析样品。
采用永磁体透镜实现电子束的聚焦和成像，避免了传统TEM对水和液氮的需求，且使用真空自闭锁技术，换样品只需3分钟，可快速的进行纳米材料的观察和成像
五种成像模式
☆ 配备TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式
☆ 通过直观的软件轻松切换成像模式
☆ TEM和STEM模式下的明场和暗场测量
☆ SEM模式（BSE）用于表面测量
☆ 能量色散光谱（EDS）用于元素分析
☆ 电子衍射（ED）用于了解晶体结构
完全集成和紧凑的设计
☆ 设计紧凑、节省空间
☆ 几乎可以在任何实验室环境中进行单插头安装
☆ 没有特殊的设施要求（不需要冷却、电源或防震隔离）
对标准样品的高对比度和分辨率
☆ 对生物和轻型材料样品具有超高的对比度
☆ 无需染色
☆ 电子加速电压：10, 15, 25 kV
☆ 图像分辨率高达 1.0 nm
☆ 专为传统制备的样品设计
☆ 超快的样品切换
 | 一体化设计--紧凑、轻便 完全独立的设计使安装地点的选择没有限制，真正实现了电子显微镜的轻松搬迁。 |
 | 无特殊设施--安装无忧 LVEM 25E可以很容易地安装在大多数实验室，而不需要对电气或管道进行特殊考虑。只需将其插入一个标准的电源插座即能投入使用。 |
 | 永磁透镜 - 无需冷却 LVEM 25E采用了永磁透镜，使设备紧凑、坚固、易于使用，同时不需要任何冷却。 |
 | 快速且容易的真空恢复 - 自动软烘烤和喷枪调节 如果出现真空损失，LVEM 25E可减少停机时间。具有自动软烘烤和喷枪调节功能，恢复真空的速度很快，而且无需维修。 |
 | 直接光束测量--低剂量定量 此功能使用户能够测量样品的辐照度。 |
 | 自动对准，两级放大 - 优异的成像条件 通过软件自动调整和控制LVEM 25E的镜筒对中和光阑位置，操作者就不需要手动校正。这意味着LVEM 25E总是准备好以优异的性能进行成像，并允许在不同的模式之间快速、轻松地切换。 |
 | 快速的样品切换 - 高通量成像 重新设计的真空系统。LVEM 25E采用一个集成的、免维护的涡轮分子泵，结合无振动的离子泵，可以实现超快的样品切换，并产生一个超高真空的成像环境，使样品免受污染。 |
 | 场发射电子枪 - 超高的对比度 25 kV的肖特基型场发射电子枪具有非常高的亮度和空间一致性，允许发射的电子和样品之间有很强的相互作用，使得LVEM 25E具有超高对比度成像。 |
LVEM 25E配备了TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式，为用户提供了独特的选择。用户可以从一个样品中获得多种数据结果，通过直观的LVEM软件即可在各种成像模式之间轻松切换。
TEM 25 kV TEM模式下提供了高帧率成像，以实现良好对比的尺寸、形状和结构测量。 |
STEM 在较低的加速电压下，10 kV和15 kV STEM模式的成像提供了更高的对比度，并允许分析更厚的样品。 |
Dark Feild TEM和STEM暗场模式（HAADF）都能使样品在具有挑战性的背景、晶面、位错、DNA等方面更容易成像。 |
SEM SEM模式（BSE）提供对样品表面的分析，以了解表面形状和纹理。 |
ED 电子衍射可以对晶体材料进行结构表征。 |
EDS EDS模式允许分析样品的化学成分，并创建元素成分图，可与STEM和SEM数据叠加。 |
