新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E

新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E

——TEM、STEM、SEM、EDS和ED五种模式



LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低电压透射电子显微镜,配备了五种成像和分析模式,把实验室材料表征研究推向一个新高度。超快的样品切换和增强的自动化功能使LVEM 25E成为常规成像应用中十分实用且易用的工具。LVEM 25E能从标准制备的样品中获得对比度好、细节丰富的图像,并能在减少染色的情况下获得同等细节水平的图像。

LVEM 25E不仅可以测量内部和外部结构,还可以分析样品的化学成分,所有这些功能均在一台设备上完成。先进的软件设计,可通过自动设置镜筒对中和光阑位置来协助用户分析样品。

台式低压透射电子显微镜,电子束和样品相互作用更强,5种模式快速切换,可以获取催化剂材料同一区域的不同模式成像,更加方便的对催化剂材料进行深入的研究和分析

五种成像模式

☆  配备TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式

  通过直观的软件轻松切换成像模式

  TEM和STEM模式下的明场和暗场测量  

  SEM模式(BSE)用于表面测量

  能量色散光谱(EDS)用于元素分析

  电子衍射(ED)用于了解晶体结构


完全集成和紧凑的设计

  设计紧凑、节省空间

  几乎可以在任何实验室环境中进行单插头安装

  没有特殊的设施要求(不需要冷却、电源或防震隔离)


对标准样品的高对比度和分辨率

  对生物和轻型材料样品具有超高的对比度

  无需染色

☆  电子加速电压:10, 15, 25 kV

  图像分辨率高达 1.0 nm

  专为传统制备的样品设计

  超快的样品切换


一体化设计--紧凑、轻便

完全独立的设计使安装地点的选择没有限制,真正实现了电子显微镜的轻松搬迁。

无特殊设施--安装无忧

LVEM 25E可以很容易地安装在大多数实验室,而不需要对电气或管道进行特殊考虑。只需将其插入一个标准的电源插座即能投入使用。

永磁透镜 - 无需冷却

LVEM 25E采用了永磁透镜,使设备紧凑、坚固、易于使用,同时不需要任何冷却。

快速且容易的真空恢复 - 自动软烘烤和喷枪调节

如果出现真空损失,LVEM 25E可减少停机时间。具有自动软烘烤和喷枪调节功能,恢复真空的速度很快,而且无需维修。

直接光束测量--低剂量定量

此功能使用户能够测量样品的辐照度。

自动对准,两级放大 - 优异的成像条件

通过软件自动调整和控制LVEM 25E的镜筒对中和光阑位置,操作者就不需要手动校正。这意味着LVEM 25E总是准备好以优异的性能进行成像,并允许在不同的模式之间快速、轻松地切换。


快速的样品切换 - 高通量成像

重新设计的真空系统。LVEM 25E采用一个集成的、免维护的涡轮分子泵,结合无振动的离子泵,可以实现超快的样品切换,并产生一个超高真空的成像环境,使样品免受污染。


场发射电子枪 - 超高的对比度

25 kV的肖特基型场发射电子枪具有非常高的亮度和空间一致性,允许发射的电子和样品之间有很强的相互作用,使得LVEM 25E具有超高对比度成像。


LVEM 25E配备了TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式,为用户提供了独特的选择。用户可以从一个样品中获得多种数据结果,通过直观的LVEM软件即可在各种成像模式之间轻松切换。


TEM


25 kV TEM模式下提供了高帧率成像,以实现良好对比的尺寸、形状和结构测量。


STEM


在较低的加速电压下,10 kV和15 kV STEM模式的成像提供了更高的对比度,并允许分析更厚的样品。


Dark Feild


TEM和STEM暗场模式(HAADF)都能使样品在具有挑战性的背景、晶面、位错、DNA等方面更容易成像。


SEM


SEM模式(BSE)提供对样品表面的分析,以了解表面形状和纹理。


ED


电子衍射可以对晶体材料进行结构表征。


EDS


EDS模式允许分析样品的化学成分,并创建元素成分图,可与STEM和SEM数据叠加。