PPMS系统比热测量选件

PPMS系统比热测量选件


比热是一个重要的物理量,虽然它是一个热学量,但在电学、磁学等领域有着重要的意义。Quantum Design公司的比热测量选件是目前好的比热测量设备之一:其低测量温度达到50mK,很容易观察样品的电子比热;其高磁场可达16T,可以轻松胜任测量样品的磁比热。加上Quantum Design公司的双流阻控温技术和新双τ模型弛豫法测量技术,用户能够非常轻松地获得的测量数据。


主要特征:


1、全自动的弛豫法测量技术,测量速度更快

2、艺术性的双τ模型拟合技术,更加精确地计算样品的比热

3、全自动样品托标定

4、测量程序自动进行背景比热减除

5、专用的比热样品安装平台使得安装比热样品变得更简单

6、可以配合He3制冷机和稀释制冷机选件使用

7、全自动测量过程

8、在高真空环境下完成测量


技术参数:


1、温度范围:1.9K-400K

                配合He3制冷机可达<0.4K

                配合稀释制冷机可达<50mK

2、磁场范围:0-16T

3、测量精度:10nJ/K @ 2K,  2%@ 2-300K(典型值)

4、比热范围:<100mJ/K


比热测量样品托

比热专用样品安装平台



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