Microscopy显微光学超导磁体系统
Janis Microscopy显微光学超导磁体系统被设计用于与ST-500型高稳定性显微光学低温恒温器一起使用，实现在7 T磁场及3.5 K~420 K变温环境中的显微光学测量。该系统配备用于样品扫描和聚焦的X-Y-Z平移台，可在低温强磁场下的进行显微拉曼、荧光、磁光克尔等多种光谱测试。
Janis Microscopy显微光学超导磁体系统被设计用于与ST-500型高稳定性显微光学低温恒温器一起使用，实现在7 T磁场及3.5 K~420 K变温环境中的显微光学测量。该系统配备用于样品扫描和聚焦的X-Y-Z平移台，可在低温强磁场下的进行显微拉曼、荧光、磁光克尔等多种光谱测试。
主要特征
☛ 7T垂直孔径超导磁体
☛ 室温孔内径42毫米
☛ 超低振动ST-500显微镜低温恒温器
☛ 温度范围：3.5~325K（420K可选）
☛ 高精度XYZ三轴平台
☛ 可测试直径为16mm的样品
☛ 低温强磁场显微拉曼、荧光、MOKE
标准Microscopy主要参数
样品环境 | 运行温度 | 磁场大小 | 光学通道 |
真空/超高真空 | 3.5 K ~ 325 K | 0 ~ 7 T | ✔ |
