8.1 Kg、40s测量！μ-X360J全新来袭，让残余应力检测轻松又精准！

发布日期：2024-10-24

X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一，是通过测量材料或制品晶面间距的变化来确定应力的，至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之一，被广泛的应用于科学研究和工业生产的各个领域。2012年，日本Pulstec公司研发出基于全二维面探测器技术和cosα残余应力分析方法的新一代便携式X射线残余应力分析仪——μ-X360系列，将X射线研究残余应力的测量速度和精度提升到了一个全新的高度。该设备由于技术先进、测试数据可重复性高、使用便携等优势，一经推出便备受业界青睐！经过十多年的技术迭代，μ-X360系列便携式X射线残余应力分析仪继μ-X360n，μ-X360s之后，如今又迎来了新的成员：μ-X360J。

小而轻的便携式X射线残余应力分析仪-μ-X360J进一步增大了圆形全二维面探测器的尺寸，提高了测试效率，同时外观更具科技感。我们希望这款集颜值和先进圆形全二维面探测器技术于一体的X射线残余应力分析仪，能够助力国内广大客户的残余应力测量事业！

小而轻的便携式X射线残余应力分析仪-μ-X360J

品牌:日本/Pulstec  型号：μ-X360J

新品优势：

☛ 更快速：二维探测器一次性采集获取完整德拜环，单角度一次入射即可完成残余应力测量；无应力铁粉典型测试时间从60s优化至40s。

☛ 更精确：X射线单次曝光可获得500个衍射峰进行残余应力数据拟合，结果更精确。

☛ 更轻松：无需测角仪，单角度一次入射即可，复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

☛ 更方便：无需任何液体冷却装置，支持便携电池供电。

☛ 更强大：支持扩展区域应力分布自动测量功能，具备晶粒尺寸均匀性、材料织构、残余奥氏体含量分析等功能。

☛ 更轻巧：探测单元和电源单元总体重量优化至8.1公斤，实现真正便携，让户外工程原位检测变得轻松可行。

轻松实现户外工程原位检测（紧凑/轻巧/便携）

更简单：软件操作更简单，仅需三步即可呈现结果。

更丰富：支持机械臂选配功能，可实现云图和三维振荡功能。

μ-X360J设备可选配机械臂功能，赋能机械自动化，助力工业4.0！