美国RHK Technology公司推出新一代革命性扫描探针显微镜控制平台R9plus

发布日期：2019-12-09

    继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得成功之后，其研发团队通过升级软硬件及功能隆重发布新一代R9plus控制器。基于独特的单箱集成，R9plus将无限的灵活性，精心设计的实用功能和的设备稳定性巧妙结合在一起。R9plus细化和扩展的固件、软件，以及进一步优化的模拟电路提供给用户优越的性能和体验。

    相比于R9控制器，升级后的R9plus（图1）特点主要有：全新的FPGA固件构架地提高了配置灵活性，对于测量提供有60多个可用的数据通道，数据流和扫描速度均提高5倍，模拟电路噪声水平降低到原来的1/4，锁相放大器的解调带宽增加100KHz，一个控制器可以运行两个独立的扫描探针显微镜（SPM）和设置任意密度的网格点进行图谱测量等。

图1：R9plus便捷的单箱集成

图2：R9plus更低的噪声水平

    R9plus允许高质量图像和谱图数据的采集。利用R9plus采集扫描隧道谱图，即网格谱线数据，允许实时显示10条阈值谱线（图3）。谱线的每个像素点可以单独显示和分析。谱线数据可以取平均值用于与衬底的噪声进行比较。

图3：硅的网格扫描隧道谱图

    R9plus对于原子力显微镜（AFM）的控制也有的优势。首先，其多个内部集成的锁相放大器可以探测针尖-样品间非线性相互作用机制；其次，通过表征非接触原子力显微镜（Non-contact atomic force microscope）和频率调制开尔文探针显微镜（Frequency-modulated Kelvin probe microscope）结合技术中的边带振幅，NC-AFM锁相环（phase lock loop）的带宽可以与开尔文测试分离，由此可以更快地扫描且噪声更低。再次，两个锁相环可以同时独立地测试双探针NC-AFM。后，提供一个切换开尔文探针不同模式的开关键，且可以同时测量2*ƒBias and 3*ƒBias由此得到 dC/dZ和dC/dV信号。

图4：边带频率调制开尔文测量噪声较低

    R9plus基本功能可被初学者快速掌握，使用方便，同时R9plus的灵活性又适用于用户，可突破限制，灵活设计更加符合实验需求的功能和模式。对于任何级别的用户体验和简单或苛刻实验步骤的任何阶段，R9plus以其完全充分整合的内部电路、直观的图形用户界面，易于定制的硬件描述语言，高的数据完整性，有利的诊断工具，低的噪音和高的速度为用户提供有力的支持。