视频回放| 《实验室级台式X射线发射谱（XES）的技术发展与前沿应用》
会议时间
2021年08月31日 14:00-14:30
会议地点
技术线上论坛
[报告简介]
X射线发射谱（XES）技术主要涉及一种二次光电子过程，通过调制入射 X 射线的能量以及通过高分辨谱仪收集器收集荧光信号，可以获得各种 X 射线发射谱。相比于常规 X射线吸精细结构谱（XAFS），XES谱图具有更高的能量分辨率，和 XAFS 方法相辅相成，从而获取全轨道的电子结构以及原子结构信息。但由于通常依赖于同步辐射X射线光源，地限制了其在各领域的大范围应用。为了突破这一限制，美国easyXAFS公司研发出了新的台式XES（XAFS300+）。该装置无需同步辐射光源，在常规实验室环境中即可实现XAFS和XES双功能测试。本报告将结合近年来实验室级台式XES谱仪的发展技术，及研究组的新实验结果，详细阐述台式XES的基本原理、技术发展及在多领域的一些应用案例，后展望其在日常实验室研究中的巨大潜力。
[视频回放]
