Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：
- PAN STM/AFM扫描头体积（2.96”X1.55”)
- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm）
- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围
- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针尖与样品更换
- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体
- 与RHK新全数字R9控制器一同使用
适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。
结构紧凑，体积：
内置减震系统、可水平或垂直放置
Pan式低温扫描探针显微镜结构极其紧凑，核心部分尺寸在~40X70mm左右；内置有弹簧和涡流阻尼减震系统； 根据用户的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种；除此之外，它兼容常用的低温恒温器和磁体，并提供相应的集成方案。 |
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原位样品与探针更换：
操做简单、快速；性能可靠
在低温和超高真空环境中，样品和针尖的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此，RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针尖更换装置，并提供了多个样品与针尖的放置室。
Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样，可充分满足各种实验要求，如原位加热、样品剥离、样品轰击等等；同时，它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。
Si(111)表面7X7重构，4K
Bi2Se3表面形貌，4K
