电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜-PSM II
电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备,该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的第二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜(PSM II)在代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。
应用领域:
1、热电材料,超导材料,燃料电池,导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量
2、功能梯度材料测量
3、观察材料退化效应
4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移
5、固体电介质材料中的传导损耗
6、阴极材料的电导率损耗
7、GMR 材料峰值温度的降低,电阻率的变化
8、样品的质量监控
可以精准测量塞贝克系数分布的设备,是研究热电薄膜材料、梯度材料和材料界面的必备设备,塞贝克系数的位置分辨率达到微米级别#