PPMS系统比热测量选件
比热是一个重要的物理量，虽然它是一个热学量，但在电学、磁学等领域有着重要的意义。Quantum Design公司的比热测量选件是目前好的比热测量设备之一：其低测量温度达到50mK，很容易观察样品的电子比热；其高磁场可达16T，可以轻松胜任测量样品的磁比热。加上Quantum Design公司的双流阻控温技术和新双τ模型弛豫法测量技术，用户能够非常轻松地获得的测量数据。
比热是一个重要的物理量，虽然它是一个热学量，但在电学、磁学等领域有着重要的意义。Quantum Design公司的比热测量选件是目前好的比热测量设备之一：其低测量温度达到50mK，很容易观察样品的电子比热；其高磁场可达16T，可以轻松胜任测量样品的磁比热。加上Quantum Design公司的双流阻控温技术和新双τ模型弛豫法测量技术，用户能够非常轻松地获得的测量数据。
主要特征：
1、全自动的弛豫法测量技术，测量速度更快
2、艺术性的双τ模型拟合技术，更加精确地计算样品的比热
3、全自动样品托标定
4、测量程序自动进行背景比热减除
5、专用的比热样品安装平台使得安装比热样品变得更简单
6、可以配合He3制冷机和稀释制冷机选件使用
7、全自动测量过程
8、在高真空环境下完成测量
技术参数：
1、温度范围：1.9K－400K
配合He3制冷机可达<0.4K
配合稀释制冷机可达<50mK
2、磁场范围：0－16T
3、测量精度：10nJ/K @ 2K， 2％@ 2－300K（典型值）
4、比热范围：<100mJ/K
比热测量样品托 |
比热专用样品安装平台 |
