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电导率-赛贝克扫描探针显微镜应用文档
扫描电导率-赛贝克系数显微镜可以测量样品的电导率和赛贝克系统的空间分布状况,是测量功能梯度材料以及材料均匀度的最新测量仪器。主要应用于热电材料,超导材料,燃料电池,导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量,以及功能梯度材料的性能测量。以下是德国宇航中心和德国Panco公司对该产品的应用说明文档。

1、Seebeck Scanning Microprobe for Thermoelectric FGM (0.58M)

2、Potential-Seebeck-Microprobe PSM:
Measuring the Spatial Resolution of the Seebeck Coefficient and the Electric Potential
 (0.6 M)

     
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