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塞贝克系数/电阻测量系统ZEM      
 
 
塞贝克系数/电阻测量系统ZEM
 
                                                ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻  
 
产品介绍:
塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。
  
产品特点:
  拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;
  测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
  欧姆接触自动检测功能(V-I图);
  可以用独创的适配器来测量薄膜;
  可定制高阻型。 
 
产品结构:
 
 
样品腔部分:
 

工作原理图:
 
 
应用方向:
对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。
 
可选功能:
1. 薄膜测量选件

2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)
3.高阻选件(最高到10MΩ)

参数配置:
型号 ZEM-3M8ZEM-3M10
温度范围50-800℃50-1000℃
样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL
加热方式红外加热
气氛高纯氦气(99.999%) 
样品温差 MAX.50℃ 
测量方式电脑全自动测量

 
 
   
     
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