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RHK UHV 扫描探针显微镜系统      
 

 美国 RHK Technology 立于 1981 年。作为 SPM 工业中的领军仪器制造商,RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色:创新性、可靠性、产品设计的开放性与优秀的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与世界著名科学家的紧密合作,二十多年来 RHK Technology 源源不断地向全世界科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。   

 R9 -- 全数字式SPM控制系统  

作为全球顶级的扫描探针显微镜仪器制造商,美国RHK Technology公司在过去的20多年里向全世界的科学家们输送了1000多套高性能的SPM控制系统。最近,RHK公司融合了当前的先进技术,推出了革命性的新一代扫描探针显微镜控制平台R9。它采用了全数字化的硬件系统,噪音极低,性能优异。单独的R9 SPM控制平台可以实现所有的STM、AFM和KFM等功能。而“拖放”式IHDLTM软件系统可以轻松实现对硬件和实验过程的定义与编辑,其独特的设计思路和开放性的软/硬件配置为研究领域的拓展奠定了坚实的基础,在国内著名高校和研究所已经拥有了10多位客户。
 
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超高真空低温四探针表面分析系统 - UHV LT QuadraProbe

QuadraProbe四探针表面分析系统保证了样品和四个STM探针都在10K下长时间稳定工作,每个探针的分辨率都达到了原子级分辨。在四个探针上方配有高分辨的SEM,用于对探针的粗定位与导航。样品分析室中还选配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司将最先进的R9控制器配置到四探针系统中,用户可以非常方面的实现对四个探针的独立控制。
 
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超高真空变温变磁场系统 - UHV VT VMF STM/AFM

VMF系列扫描探针显微镜系统将变磁场环境引入到表面科学研究与实验中,无需制冷装置,即可实现0~10000Gauss面内连续可变磁场环境,在变磁场环境中,AFM/STM的功能和性能不受任何影响;样品的变温范围从25K~1500K。

 
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超高真空变温扫描探针显微镜 - UHV VT STM/AFM

UHV STM/AFM系统


完整的超高真空 AFM/STM 系统,具有扫描速度快;震动隔离采用气柱或者弹簧方式;具有自动化程度高的特点。 

 

UHV STM/AFM子系统

超高真空 STM/AFM 首选子系统;样品变温范围从小于 25 K 到大于 1500 K;配有震动隔离系统;原位针尖替换与转移;易于与其他设备连接,从而构建多腔体 SPM 系统。
扫描探针显微镜表面分析系统

此系列的产品完美结合了 RHK SPM 与 Specs 生产的表面分析设备。可以进行多种表面分析操作;操作简单、实验结果精确。
 

RHK公司2012产品简介 (4.27M)

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