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美国RHK Technology公司推出新一代革命性扫描探针显微镜控制平台R9plus
 
    继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得极大成功之后,其研发团队通过升级软硬件及功能隆重发布新一代R9plus控制器。基于独特的单箱集成,R9plus将无限的灵活性,精心设计的实用功能和极高的设备稳定性巧妙结合在一起。R9plus细化和扩展的固件、软件,以及进一步优化的模拟电路提供给用户最优越的性能和体验。
    相比于R9控制器,升级后的R9plus(图1)特点主要有:全新的FPGA固件构架极大地提高了配置灵活性,对于高级测量提供有60多个可用的数据通道,数据流和扫描速度均提高5倍,模拟电路噪声水平降低到原来的1/4,锁相放大器的解调带宽增加至100KHz,一个控制器可以运行两个独立的扫描探针显微镜(SPM)和设置任意密度的网格点进行图谱测量等。

图1:R9plus便捷的单箱集成
 
图2:R9plus更低的噪声水平

    R9plus允许高质量图像和谱图数据的采集。利用R9plus采集扫描隧道谱图,即网格谱线数据,允许实时显示10条阈值谱线(图3)。谱线的每个像素点可以单独显示和分析。谱线数据可以取平均值用于与衬底的噪声进行比较。
图3:硅的网格扫描隧道谱图
    R9plus对于原子力显微镜(AFM)的控制也有极大的优势。首先,其多个内部集成的锁相放大器可以探测针尖-样品间非线性相互作用机制;其次,通过表征非接触原子力显微镜(Non-contact atomic force microscope)和频率调制开尔文探针显微镜(Frequency-modulated Kelvin probe microscope)结合技术中的边带振幅,NC-AFM锁相环(phase lock loop)的带宽可以与开尔文测试分离,由此可以更快地扫描且噪声更低。再次,两个锁相环可以同时独立地测试双探针NC-AFM。最后,提供一个切换开尔文探针不同模式的开关键,且可以同时测量2*ƒBias and 3*ƒBias由此得到 dC/dZ和dC/dV信号。
图4:边带频率调制开尔文测量噪声较低
 
    R9plus基本功能可被初学者快速掌握,使用方便,同时R9plus的灵活性又适用于高级用户,可突破限制,灵活设计更加符合实验需求的功能和模式。对于任何级别的用户体验和简单或苛刻实验步骤的任何阶段,R9plus以其完全充分整合的内部电路、直观的图形用户界面,易于定制的硬件描述语言,最高的数据完整性,有利的诊断工具,最低的噪音和最高的速度为用户提供有力的支持。
 
 
R9plus控制器更多详情,欢迎拨打010-85120280咨询。
 
 
 
 
     
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